MULTÍMETRO DIGITAL FLUKE-28-II IP67
REF : 3947820
817,00 €
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Piezas
Multímetros para aplicaciones industriales Fluke 27-II/28-II. Los multímetros digitales Fluke 27 II y 28 II definen un nuevo estándar para trabajar en condiciones exigentes, a la vez que ofrecen la funcionalidad y precisión necesarias para resolver la mayoría de los problemas eléctricos. Ambos multímetros cuentan con homologación IP 67 (a prueba de agua y de polvo), un amplio rango de temperatura de funcionamiento de -15 °C a +55 °C (5 °F a 131 °F, -40 °C durante 20 minutos) y pueden operar con una humedad relativa del 95%, asimismo, están diseñados y fabricados para soportar una caída desde 3 metros (10 pies) de altura. Los multímetros de las Serie 20 de Fluke están diseñados para trabajar en los entornos más exigentes.
Multímetro
Indicación | Digital |
Visualización analógica de gráfico de barras | SI |
Visualización de barras gráficas analógicas/logarítmicas | SI |
Visualización múltiple | NO |
Selección de intervalo de medición | Manual/automático |
Intervalo de medición de tensión máxima, CA | 1000 V |
Resolución más baja, tensión CA | 0,1 mV |
Intervalo de medición de tensión máxima, CC | 1000 V |
Resolución más baja, tensión CC | 0,1 mV |
Intervalo de medición de intensidad máxima, CA | 10 A |
Resolución más baja, intensidad CA | 0,1 µA |
Intervalo de medición de intensidad máxima, CC | 10 A |
Resolución más baja, intensidad CC | 0,1 µA |
Intervalo máximo de medición de medidas | 50 MOhm |
Medición en milliohm con técnica de 4 hilos (conexión Kelvin) | NO |
Resolución más baja, resistencia | 0,1 Ohm |
Medición de temperatura | SI |
Medición de temperatura RTD | NO |
Medición de temperatura TC | SI |
Rango de medición de la temperatura máx. | 1090 °C |
Resolución mínima de temperatura | 0.1 °C |
Medición de capacitancia | SI |
Rango de medición de capacitancia máx. | 9999 µF |
Resolución mínima de capacitancia | 0.01 ?F |
Medición de frecuencia | SI |
Rango de medición de frecuencia máx. | 199.99 kHz |
Resolución mínima de frecuencia | 0.1 Hz |
Prueba de resistencia/prueba de diodo | SI |
Intervalo de medición de resistencia de aislamiento | - - - MOhm |
Tensión de prueba nominal 10 V | NO |
Tensión de prueba nominal 50 V | NO |
Tensión nominal de prueba 100 V | NO |
Tensión nominal de prueba 250 V | NO |
Tensión nominal de prueba 500 V | NO |
Tensión nominal de prueba 1000 V | NO |
Medición de longitud de cable | NO |
Prueba de simetría de cable para conexiones de dos hilos a-b-E | NO |
Medición de potencia y energía | NO |
Análisis de armónicos/Power Quality | NO |
Con medición de decibelios (dB) | NO |
Medición del valor relativo | SI |
Medición de inductancia | NO |
Medición de conductividad | SI |
Comprobador de continuidad | SI |
Soporte de datos | SI |
Valor máximo de almacenamiento | SI |
Valor mínimo de almacenamiento | SI |
Memoria de valor máximo | SI |
Medición RMS real | SI |
Mediciones del coeficiente de utilización | SI |
Medición de la velocidad de rotación | NO |
Memoria de valores medidos | NO |
Interfaz | NO |
Interfaz de Bluetooth | NO |
Interfaz IR | NO |
Interruptor automático | NO |
Categoría de circuito de medición | CAT IV |
Tensión máx. categoría de circuito de medición | 600 V |
Versión a prueba de explosiones | NO |